LCR測試儀測量原理
2020-02-19
[1817]
測試原理
Vx與Vr均是矢量電壓表，Rr是理想電阻。自平衡電橋的意思是:當DUT(Device Under Test)接入電路時，放大器的負反饋配置自動使得OP輸入端虛地。Vx準確測定DUT兩端電壓(DUT的Low電位是0)，Vr與Rr測得DUT電流Ix，由此可計算Zx。
HP4275的測試端Hp,Hc,Lp,Lc(下標c代表current, 下標p代表Potentail)，Guard(接地)的配置可導致測試的誤差的差異。
提高精度的方法是: 1,Hp,Lp,Hc,Lc盡量接近DUT; 2,減小測試電流Ix的回路面積&磁通量(關鍵是分析Ix，要配合使用Guard與Cable小化回路面積);3,使用Gurard與Cable構建地平面中斷信號線間的電場連接，雖然會增加信號線的對地電容(對地電容不影響測試結果)，但是會減少信號線的互容。
Guard與Cable的對地寄生阻抗(Zhg,Zlg) 不影響測試結果，電橋平衡時Zlg的兩端電壓是0，流向Rr的電流不會被Zlg分流，Zhg的分流作用不影響Hp的電壓測量。
測量步驟
LCR測試儀一般用于測試電感和電容。測量步驟如下:
設置測試頻率
測試電壓或者電流水平
選擇測試參數(shù)，比如Z、Q、LS(串聯(lián)電感)、LP(并聯(lián)電感)、CS(串聯(lián)電容)、CP(并聯(lián)電容)、D等
儀器校準，校準主要進行開路、短路校準，高檔的儀器要進行負載校準
選擇測試夾具
夾具補償
將DUT放在夾具上開始測試
Vx與Vr均是矢量電壓表，Rr是理想電阻。自平衡電橋的意思是:當DUT(Device Under Test)接入電路時，放大器的負反饋配置自動使得OP輸入端虛地。Vx準確測定DUT兩端電壓(DUT的Low電位是0)，Vr與Rr測得DUT電流Ix，由此可計算Zx。
HP4275的測試端Hp,Hc,Lp,Lc(下標c代表current, 下標p代表Potentail)，Guard(接地)的配置可導致測試的誤差的差異。
提高精度的方法是: 1,Hp,Lp,Hc,Lc盡量接近DUT; 2,減小測試電流Ix的回路面積&磁通量(關鍵是分析Ix，要配合使用Guard與Cable小化回路面積);3,使用Gurard與Cable構建地平面中斷信號線間的電場連接，雖然會增加信號線的對地電容(對地電容不影響測試結果)，但是會減少信號線的互容。
Guard與Cable的對地寄生阻抗(Zhg,Zlg) 不影響測試結果，電橋平衡時Zlg的兩端電壓是0，流向Rr的電流不會被Zlg分流，Zhg的分流作用不影響Hp的電壓測量。
測量步驟
LCR測試儀一般用于測試電感和電容。測量步驟如下:
設置測試頻率
測試電壓或者電流水平
選擇測試參數(shù)，比如Z、Q、LS(串聯(lián)電感)、LP(并聯(lián)電感)、CS(串聯(lián)電容)、CP(并聯(lián)電容)、D等
儀器校準，校準主要進行開路、短路校準，高檔的儀器要進行負載校準
選擇測試夾具
夾具補償
將DUT放在夾具上開始測試
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